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真空チャンバー内の搬送アームに異常発生?

診断実績|真空チャンバー内の搬送アームに異常発生?

チャンバー内のアームは一見シンプルな構造に見えますが、実際には高頻度・高精度・高リスクの動作を担っています。しかし、現場ではこのようなアームの動作状態をリアルタイムで監視する仕組みがほとんどありません。そのため、異常が発生した時点ではすでにウエハーの破損や装置の停止が発生しており、多大な損失につながっています。

真空多チャンバー成膜装置

半導体前工程において、Cluster Toolは高度に統合された多チャンバープロセスプラットフォームであり、中央の搬送アームが真空内でウエハーを順番に各処理チャンバーへ搬送し、成膜・エッチング・洗浄などの作業を行います。このアームは真空チャンバー内にあり、非常に高い精度が求められ、簡単に交換できない重要な機構です。

しかし、こうしたアームの状態をリアルタイムに監視する体制が現場では整っておらず、異常が起こるとすでにウエハーの破損や装置停止といった深刻な結果が発生している場合が多いです。そのため、異常を予測可能な監視ソリューションを導入し、スマートな予知保全の実現が必要です。

なぜチャンバー内のアームを監視する必要があるのか?
一見シンプルに見えるチャンバー内のアームですが、実際には高頻度・高精度・高リスクの動作を担当しています。アームの動作が不安定になると、以下のような問題が直接発生します:
• ウエハーの搬送ミスや落下
• ウエハーのキズ・割れ・位置ズレ搬送
• チャンバーとアームの接触による破損
• ゲート動作やタイミングエラーによるチャンバー停止
• 装置全体の停止、トラブルシュートやアーム解体修理の必要


アームは真空チャンバー内にあるため、通常の機構のように目視で点検することはできず、プロセス中に頻繁に装置を止めて分解検査することもできません。したがって、「プロセスを中断せずにアームの健全性を常に把握する」ことが最も重要な課題となります。

真空チャンバー内の搬送アーム異常

異常発生時の実際の課題と痛点
真空チャンバー内の搬送アームは、明確な故障が発生するまで異常に気づきにくく、いったん問題が発生すると、大量の工数とコストが修復に必要となります。

問題の種類説明影響
ウエハーの落下や破損 配置のずれ、またはグリッパーの緩み チャンバーの汚染、歩留まりの低下、装置全体の洗浄が必要
アームとゲート機構の衝突 動作のタイミングずれ、ゲート遅延または誤動作 機構の損傷、部品交換と再調整が必要
動作の遅延または振れ モーターの劣化、潤滑不足、または機構摩耗 搬送時間の延長、生産効率の低下
微細な振動異常が未検出 従来の監視は「動くかどうか」のみを確認し、「正しく動いているか」は検出できない 故障の兆候を見逃し、予知保全のタイミングを逸する

測定状況

パターンテスト動作

1. アームBがChamber1に回転しウエハーを取り出す
2. アームAがChamber1に前進してウエハーを取り出す
3. アームAがChamber1からウエハーを取り出した後、Output portに移動してウエハーを置き、その後に引き戻す

チャンバー内アーム

テスト動作 1:アームBがChamber1に回転して取り出す

設置位置:モーター本体の下部
アーム軸の制御:X軸(前進)、TH軸(回転)
測定結果:TH軸の信号特性は明確ではないが、動作判定は可

テスト動作1:アームBがChamber1に回転して取り出す
テスト動作1:アームBがChamber1に回転して取り出す
テスト動作1:アームBがChamber1に回転して取り出す

アーム動作タイミング状況:(X軸:秒;Y軸:mm/s)

テスト動作1:アームBがChamber1に回転して取り出す

テスト動作2:アームAがChamber1へ回転前進してウエハーを取り出す(短距離動作)

設置位置:モーター本体の上部
アーム軸制御:X軸の前進・後退動作
測定結果:信号特性が明確で、測定ポイントとして適している

テスト動作2:アームAがChamber1に回転前進してウエハーを取り出す(短距離動作)
テスト動作2:アームAがChamber1に回転前進してウエハーを取り出す(短距離動作)
テスト動作2:アームAがChamber1に回転前進してウエハーを取り出す(短距離動作)

アーム動作タイミング状況:(X軸:秒;Y軸:mm/s)

テスト動作2:アームAがChamber1に回転前進してウエハーを取り出す(短距離動作)

テスト動作2:複数動作の判定と類似度トレンド分析

テスト動作2:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作2:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作2:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作2:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作2:複数動作の判定と類似度トレンド分析

テスト動作3:アームAがChamber1へ前進し、Output portに回転してウエハーを配置し、引き戻す

設置位置:モーター本体の上部
アーム軸制御:X軸動作、TH軸回転
測定結果:信号特性が明確で、測定点として適用可能

テスト動作3:アームAがChamber1へ前進し、Output portに回転してウエハーを配置し、引き戻す
テスト動作3:アームAがChamber1へ前進し、Output portに回転してウエハーを配置し、引き戻す
テスト動作3:アームAがChamber1へ前進し、Output portに回転してウエハーを配置し、引き戻す

アーム動作タイミング状況:(X軸:秒;Y軸:mm/s)

テスト動作3:アームAがChamber1へ前進し、Output portに回転してウエハーを配置し、引き戻す

テスト動作3:複数動作の判定と類似度トレンド分析

テスト動作3:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作3:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作3:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作3:複数動作の判定と類似度トレンド分析
テスト動作3:複数動作の判定と類似度トレンド分析

外部シグナルライトによる装置状態表示と多動作の同時モニタリング管理

外部シグナルライトによる装置状態表示と多動作の同時監視
アームPM前後における類似度の変化
設置状況

測定結論

VMS-MLは、真空チャンバー内のアーム動作を可視化管理し、目標動作と軸位置を設定することができます。 アームの長動作・短動作の両方に対応し、学習後の管理が可能です。スコアを用いた傾向分析により、予知保全のしきい値管理が実現できます。また、外部シグナルライトによる稼働状態表示と健康度のしきい値管理も可能です。

高精度・高スループット・高信頼性が求められる半導体プロセスにおいて、Cluster Tool内アームの安定した動作は、歩留まりと生産性の鍵となります。しかし、従来の時間ベースや経験則による保全方法では、複雑化する工程や狭まる許容誤差に対応できません。
振動監視、モーター電流分析、動作シーケンスモデルを活用した予知保全システムを導入することで、潜在的な異常を早期に検出し、「事後対応」から「事前予測」への保守戦略転換を実現します。

この予知保全システムを導入することで、半導体工場に多くの明確なメリットがもたらされます。故障の前に警報を発し、ピーク時を避けてメンテナンスを計画することで、プロセスの中断を回避できます。アームの異常を事前に把握することでウエハーの破損や汚染を防ぎ、歩留まりと顧客満足度を向上させます。異常状態での継続運転を避けることで、機構部品の摩耗も軽減されます。各バッチのウエハー搬送リズムと位置が安定・一貫し、プロセス変動が抑制されます。設備の健全性は数値化・可視化され、スマートファクトリー全体の展開を支援します。

VMS-ML 機械学習型監視システム
VMS-ML 機械学習型インテリジェント監視システム
VMS-ML 機械学習監視システム

不良品をリアルタイムで検出・遮断